晶振负阻测试报告:停振电阻与再起振电阻要分别留档

2026年11月13日 12:57    发布者:mikegengjian
收到无源晶振板级匹配报告,如果附件只写“串联电阻为若干欧”,应先问清这是增大电阻直到停振时的读数,还是随后减小电阻恢复振荡时的读数。相同单位不能替代测试方向和状态的记录。

NDK在负阻测量方法说明中描述了一种标准流程:串联电阻从较小值增加,观察频谱峰消失;然后减小电阻,观察峰重新出现。该方法用恢复振荡时的外加电阻与晶体电阻相加,作为电路负阻的评估值。原厂也明确表示,具体电路可能采用不同程序或方法,因此报告必须注明所用方法版本。

采购审核报告时,建议把“增加电阻”和“减小电阻”两条过程分开记录。保留原始现象、阻值读数及计算口径,不能把任意一个停止点或恢复点直接改名为某种通用的起振保证值。不同实验程序的结果也不宜先求平均再比较。

还应区分外加电阻读数与最终计算结果。假设一份报告中外加电阻为300Ω、参与该方法计算的晶体电阻为50Ω,相加得到350Ω;这是演示报告字段关系的算术例子,不代表任一3225型号的实际参数或合格门限。晶体电阻的定义、取值条件和测量方法仍需按项目资料确认。

测试涉及改动振荡回路,宜由研发按适用的IC及晶体原厂方法执行。采购负责保留完整料号、电路版本、条件与报告,不自行要求在量产板上反复改阻,也不凭单张频谱截图确认全部温度和上电场景均合格。

对旧料和候选料,先确认测试方法、状态判据及计算口径一致,再讨论匹配差异。资料缺少恢复过程或晶体电阻项时,应补足说明,而不是直接宣布样品不良。

选型资料:MERLIN美林晶振无源晶体资料。原厂来源:NDK Negative Resistance (2) Measurement Method。
本文为AI辅助整理的资料核对笔记;未进行样品实测,无库存、价格、交期或匹配承诺。