东芝推出高速导通小型光继电器,可缩短半导体测试设备的测试时间
2025年02月20日 18:08 发布者:eechina
东芝电子元件及存储装置株式会社(“东芝”)今日宣布,最新推出采用S-VSON4T封装的光继电器——“TLP3414S”与“TLP3431S”,具有比东芝现有产品更快的导通时间。TLP3414S与TLP3431S的断态输出端电压和通态电流额定值分别为40 V/250 mA和20 V/450 mA。该产品于今日开始支持批量出货。
新型光继电器通过提高输入侧红外LED的光输出并优化光电探测器(光电二极管阵列)的设计,可实现高效的光耦合,将导通时间最大值缩短至150 μs。TLP3414S的导通时间比东芝现有产品TLP3414缩短约50 %,TLP3431S的导通时间比东芝现有产品TLP3431缩短约62 %。
此外,当输出打开时,这两款产品的导通电阻会影响信号衰减(TLP3414S:最大值3 Ω,TLP3431S:最大值1.2 Ω);当输出关闭时,输出电容会影响高频信号泄漏(两款产品均为典型值6.5 pF)。新产品与东芝现有产品相当,确保了稳定的信号传输。
新产品适用于半导体测试设备中的引脚电子应用,可在开关信号的同时以高精度高速测量待测设备(DUT)。
新产品由于采用小型S-VSON4T封装,与东芝现有产品的VSON4封装相比表贴面积减少了约20 %,有助于实现半导体测试设备和其他设备的小型化。
东芝将继续提供更多高性能产品,以满足半导体测试设备对更高性能和更快速度的需求。
应用:
- 半导体测试设备(高速存储器测试设备、高速逻辑测试设备等)
- 探测卡
- 测量设备
特性:
- 高速导通时间:tON=150 μs(最大值)
- 低导通电阻:
TLP3414S RON=3 Ω(最大值)
TLP3431S RON=1.2 Ω(最大值)
- 小型S-VSON4T封装:1.45 mm×2.0 mm(典型值),厚度=1.3 mm(典型值)
主要规格:
(除非另有说明,Ta=25 °C)
器件型号TLP3414STLP3431S
东芝封装名称S-VSON4T
尺寸(mm)1.45í2.0(典型值),
厚度=1.3(典型值)
触点类型1-Form-A
(常开)
断态输出端电压VOFF(V)4020
通态电流ION(mA)250450
通态电流(脉冲)IONP(mA)7501350
工作温度Topr(°C)–40至110
隔离电压BVS(Vrms)AC,60 s,500
R.H.≤60 %
触发LED电流IFT(mA)最大值3
导通电阻RON(Ω)典型值20.8
最大值31.2
输出电容COFF(pF)典型值6.5
导通时间tON(μs)最大值150
关断时间tOFF(μs)100
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注:
S-VSON4T封装:1.45 mm×2.0 mm(典型值)
东芝现有产品TLP3414(额定值40 V/250 mA)和TLP3431(额定值20 V/450 mA),采用VSON4封装
引脚电子(PE):用于向待测设备(DUT)提供电源和测试信号,并判断DUT的输出信号的一种接口电路
VSON4封装:1.45 mm×2.45 mm(典型值)
TLP3414S的测试条件:RL=200 Ω、VDD=20 V、IF=5 mA,TLP3431S:RL=200 Ω、VDD=10 V、IF=5 mA
相关信息
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TLP3431Shttps://toshiba.semicon-storage.com/cn/info/lookup.jsp?pid=TLP3431S
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