案例分享：矢网自动测试系统怎么检测晶圆芯片S参数

　　北京某科技公司致力于射频芯片的研发、生产和销售，其产品广泛应用于4G、5G移动终端和物联网模组等领域。该公司与纳米软件合作，旨在通过NSAT-1000矢网自动测试系统实现与矢量网络分析仪和探针台的交互，完成晶圆芯片S参数的全自动化测试。

　　矢网自动测试系统测试晶圆芯片的原理

　　网络分析仪自动化测试系统通过GPIB、LAN等通讯线缆与探针台和网络分析仪连接，利用边缘计算设备ATEBOX调动这些仪器及测试流程，实现晶圆上多个芯片的连续自动化测试。

　　在测试前，系统会获取探针台的状态，判断是否开始测试。在测试过程中，系统会通过探针台获取当前被测晶圆芯片的坐标信息，并采集网分测试数据，然后发送相应的信号将测试结果反馈给探针台。在探针台获取到测试结果信息时，会自动移动到下一产品位置，开始测试。

　　通过NSAT-1000，该公司实现了从半自动化测试到全自动化测试的转型，批量测试晶圆芯片，提高了测试效率。

　　自动化测试系统程控探针台

　　在此次项目合作过程中，系统开发的挑战之一就是实现与探针台的交互通讯。为此，纳米软件技术人员学习并掌握探针台的使用以及操作流程，收集并验证其操作指令，然后对其指令进行二次封装，通过GPIB线缆完成与探针台的完美通讯。测试系统与探针台的交互，包括以下内容：
　　1. 系统告知探针台流程开始
　　2. 系统获取探针台状态，判断是否可以开始测试
　　3. 系统从探针台获取当前被测晶圆芯片的坐标
　　4. 系统向探针台反馈当前产品测试结果

　　自动化测试系统程控网络分析仪
　　在系统中封装对应网络分析仪型号的操作指令，通过LAN通讯线缆将其与系统连接。在测试过程中，系统会采集网络分析仪上的测试数据，并以Pass、Fail指标判断当前被测产品的结果。

　　矢网自动测试系统区别于传统自动化测试系统，可以适应未来测试需求的变化，灵活调整测试项目，减少了系统维护成本。更重要的是，系统实现了数据的统一汇总管理，发挥数据有效价值。关于NSAT-1000更多详情可访问：https://www.namisoft.com/solution/spzjcsxt/473.html