筑波科技与美商泰瑞达携手ETS 开创化合物半导体IC的动态测试新纪元

2023年08月31日 20:32    发布者:eechina
筑波科技(ACE Solution)与美商泰瑞达(Teradyne)携手合作,推出ETS GaN Mos、Power Module、IGBT测试整合方案,为半导体行业市场带来突破性的竞争优势。半导体功能测试(FT)向来需要克服各种挑战,包括复杂的案例设计、执行和系统维护、数据分析管理,以及对测试环境稳定性的高度要求。如何以单一机台实现CP与FT测试的一机多用,实现DUT批次特性验证,产线大批量生产並兼顾「动态和静态」测试,成为了业界关注的焦点。

ETS 动态测试整合方案结合多种专为IPM/PIM测试而设计之硬体配置(包括Teradyne ETS-88、PDU、OSCILLOSCOPE、LCR Meter和Test Head),ETS-88拥有双扇区设计,为系统带来高度灵活性,使其能在LAB环境下验证CP&FT。该方案集成动态RDSon测试和AC测试功能,其独特一体化测试头设计,更在静动态测试实现重大突破,确保高度的稳定整合与便利。

该方案展现业界领先的多项优势:DC测试提供1000V/100A (Option: 3KV/1KA)、IV source (12A)、AC测试(2KV/2KA)、SC测试(8KA)、支持动态RDSon、至多10组的多脉冲测试、动静一体式的测试头、小于20nH的测试头杂散电感、最小的电流精度nA等,同时提供多Site的FT测试和CP测试,搭配标准软件客制化,整体开发周期短于两个月,同时能够获得本地服务支持。总体而言,ETS GaN Mos FT以其价格合理、灵活性高和一体化整合等特点,为客户带来全新测试体验。

透过与泰瑞达ETS的合作,筑波科技为客户提供全面的解决方案,实现高效、高便捷性的测试。ETS GaN Mos整合四大关键性能:业界领先的高测试效率、100%高稳定性、灵活高效的动态测试性能,以及自主研发的便捷使用及调适功能软件。这些性能实现重复循环测试,支持任意脉冲数开关测试,实现不同电流等级开关参数的一次性测试,不影响测试时间。此外,还支持多模式的短路电流测试,可实现上下管单管短路和上下管直通短路测试,并可选择VIN和ITRIP(CSC)作为关断信号,测试程序的自动转载及数据输出工具一键操作,在批次测试结束时自动生成Excel格式数据,实现继电器的可视化调适和寿命管控,以及测试项目的快速选择工具。

筑波科技结合泰瑞达ETS在全球超过6600台以上的装机量市场优势,共同提供软件客制化整合策略:融合方案整合设计(探针台/卡、分选机、Load Board、Socket之一站式ATE连接DUT设计)、特殊环境模拟设备、ETS系列、研发类One Box机台,实现AC to DC一体测试(AC/DC),现在到未来的一机实现(650 vs 3KV),单工位到多工位的一架多位(1~16 Site),从研发到量产(CP/FT/Module)、单机到整合(Customized Software)等全方位方案。筑波科技在台湾及中国深圳设有半导体工程中心,可提供本地化的即使服务。