开关损耗测试方案中的探头应用

2021年11月17日 11:05
如今的开关电源技术很大程度上依托于电源半导体开关器件,如MOSFET和IGBT。这些器件提供了快速开关速度,能够耐受没有规律的电压峰值。同时在On或Off状态下小号的功率非常小,实现了很高的转化效率,热损耗极低。开关设备极大程度上决定了SMPS的整体性能。开关器件的损耗可以说是开关电源中最为重要的一个损耗点,课件开关损耗测试是至关重要的。接下来普科科技PRBTEK就开关损耗测试方案中的探头应用进行介绍。

上图使用MSO5配合THDP0200及TCP0030A等探头
以上方案中通过示波器专门的开关损耗算法,配合泰克探头,完美补偿探头延迟,减少了开关损耗运算过程中产生的误差。测试结果极为可靠。

TCP0030A及THDP0200参数探头外观图
TCP0030A
THDP0200附:常见参数介绍1、带宽,代表了探头可测到的最大信号频率2、共模抑制比,代表了探头抑制共模干扰的能力,越大代表抑制能力越强3、输入电容,代表探头对于被测系统的负载影响,输入电容越低,影响越小测试效果越佳以上内容由普科科技prbtek为您分享,如果您在选型/使用过程有什么问题,咨询普科科技官网:www.prbtek.com公司目前致力于示波器测试附件配件研发、生产、销售,涵盖产品包含电流探头、差分探头、高压探头、无源探头、电源纹波探头、柔性电流探头、近场探头、逻辑探头、功率探头和光探头等。