罗德与施瓦茨联合六幺四科技推出400G光模块测试方案

5G通信和大数据中心等系统对数据流量需求大幅攀升，带动了对数据传输的更高需求，400G将是新一代数据中心和骨干网建设的大势所趋。400G光模块是400Gbps系统的核心部件，其主要功能是光电转换：在发送端将电信号转变成光信号，再通过光纤进行传送，到了接收端再将光信号转变成电信号。400G光模块芯片则是形成400G光模块的基础，是400Gbps系统竞争的关键制高点。

光模块芯片的频域测试，是测量和评估光模块芯片频域带宽、3dB截止频率、反射、差分参数、群延时、二阶互调、三阶交调等特性的关键测试步骤，是晶片在片测试、器件封装测试等工艺流程中的必须工序。罗德与施瓦茨（Rohde & Schwarz）和六幺四科技（Newkey Photonics）合作开发和推出的400G光模块芯片频域测试方案ZNA-GOCA，将罗德与施瓦茨的矢量网络分析仪ZNA67和六幺四科技的光电底座GOCA67进行硬件和软件集成，形成一套精确、稳定、高效的光模块芯片频域测试方案。

多家光通信产业引领企业用户已选用罗德与施瓦茨和六幺四科技开发的ZNA-GOCA方案为其400G光模块芯片的研发测试和生产测试线的频域测试方案。同时，面向未来800Gbps光通信系统的110GHz频域和测试方案也已完成用户验证。


ZNA-GOCA光模块芯片频域测试方案

ZNA-GOCA光模块芯片频域测试方案采用“微波光子技术”，突破了传统方法对测量分辨率和相位精确度的限制，实现微波频谱扫描向光波光谱扫描的映射，配合电-光、光-电和光-光校准技术，实现大带宽、高精度、高分辨率的元器件频谱响应测试。在频率分辨率、幅度分辨率、相位精确度和动态范围等关键参数上，均实现大幅度提升。


GOCAS光模块芯片频域测试软件界面



ZNA-GOCA光模块芯片频域测试的测试对象包括：（1）电光器件。如强度调制器（马赫增德尔调制器）、幅度调制器、电吸收调制器、直调激光器、光发射模块或链路等；（2）光电器件。如PIN光电二极管、雪崩光电二极管（APD）、单行载流子光电二极管（UTC PD）、光接收模块或链路等；（3）光光器件。如光纤、光纤光栅、光集成微环/盘/球、高非线性光纤、可调光延时线、可调光滤波器、微波光子链路等。可测参数包括：S参数，3dB截止频率，群延时，差分和共模参数等。



典型测试结果如下：

            I.光-电器件（待测件：50GHz高速光电探测器）



            Ⅱ.电-光器件（待测件：50Gbps高速电光调制器）



            Ⅲ.光-光器件测量（待测件：光微环芯片）