使用频谱仪和近场探头测试解决无线智能终端产品的辐射杂散困扰

随着5G时代的推进，智能终端产品作为宽带射频应用最大的消费市场面临着一系列开发与验证的问题。其中，越来越小的设计空间与电磁辐射杂散性能之间的矛盾，将是商业研究人员开发和验证中面临的巨大挑战。若要以更高的精度、更强的自信探索开创性的概念，来推动现有技术发展、以创新创造革命、将 5G 愿景转变为现实的过程中，我们不得不在工作中选择更为适合我们的调试、测试解决方案。克服这些难题需要对智能终端设备进行有效的测试和测量，这样能确保准确地生成和分析信号，从而正确地测试和测量通信链路（如发射机和接收机）。采用的信号生成和分析解决方案应当提供快速的测量时间和切换速度，并且具有可扩展性，让测试工具可以适应用户不断变化的测试需要。另外解决方案还应具有灵活性，以确保它们支持当前和未来的制式。有了这些解决方案后，我们才能放心的在研发、调试、验证中寻找出合适的、较优的、低成本的方案从而缩短开发周期，进而抢先获得消费市场认可。本案例向我们揭示了一种通过使用频谱仪和近场探头测试解决方案来完成无线智能通讯设备的辐射杂散调试的方法。一个快速精准及高性价比的设备往往能够高效的完成研发验证。以下来详细分析：某无线智能终端案例要点：-GSM850 RSE测试三次谐波辐射超标-2.2GHz频率裕量较小图11  调试后传导辐射测试结果若需获得更多资讯，欢迎前往仪商城进行了解