搜索
首页
新闻
新品
文章
下载
电路
问答
视频
职场
杂谈
论坛
工具
在线研讨会
单片机/处理器
FPGA
软件编程/OS
电源技术
模拟电子
PCB设计
测试测量
无源/分立半导体
音频/视频/显示
MEMS
系统设计
消费电子
工业/测控
汽车电子
通信/网络
医疗电子
机器人技术
NIDays2011电子产品测试应用资源包
2011年12月02日 13:16 发布者:eechina
NIDays是NI全年最大技术盛会。作为本届会议七大专题之一,电子产品测试应用深入剖析测试中的信号分析,介绍如何快速构建混合信号测试系统以及新型半导体测试与验证。
下载:51841
更多NIDays相关资源,请访问NI技术专区
更多信息请访问:china.ni.com/nidays/2011
该文章有附件资料,如需下载请访问
电脑版
。
相关文章
品英Pickering推出新款PXI高压多路复用器, 开关负载能力翻倍
利用多功能 PXI I/O 套件,实现紧凑、灵活、自动化的测试系统
使用 PXI 示波器套件快速启动并运行紧凑的自动化测试系统
NI PXIe-8135嵌入式控制器
R&S FSW发布增强动态范围的新射频前端(EDFE),强化产品领先优势