安泰测试给西安电子科技大学某实验室提供方案—（八）泰克Power整体测试方案

Agitek小编今天带您学习给西安电子科技大学实验室提供的方案：泰克Power整体测试方案。Power测试方案功率器件测试 —— 碳化硅、氮化镓器件的全桥测试（一）• IsoVu™ 技术是一种全新的高电压隔离探测解决方案，提供了精确和可重复的结果将测试设备与示波器完全电流隔离。          •唯一同时提供杰出的带宽、动态范围、共模范围和共模抑制比的测量系统 。◦ 800M、1 GHz带宽◦ 60000V共模电压◦ 高达2500V差分电压◦ 杰出的共模抑制比▪ DC ~ 100 MHz：1000000:1 (120 dB) CMRR▪ 1 GHz时10,000:1 (80 dB) CMRR 安泰测试-实验室用半导体动态参数测量系统• 示波器MSO56+IGBT-TOWN软件*1 • THDP0200*2测量上、下管Vge，Vce • TPP1000*1（标配）测量下管Vge， TPP0850*1测量下管Vce • TRCP300/600/3000电流探头 • AFG31051*1 • 2200-20-5电源*1，提供驱动供电 • 600V/1500V/3000VDC电源*1，提供 Vbus供电 • 负载空芯电感（绕制） • 器件测试箱• SIC的器件需要选择• TIVH08*1测量上管Vge。 • GAN的器件需要选择• TIVM1*1测量上管Vge。 板级测试 —— 开关损耗分析测试难点： 1. 如何针对导通压降和关断 电压的大动态范围的开关 信号进行测试？ 2. 由于开关点震荡的存在导 致开关周期无法准确判断？开点损耗+闭点损耗+导通损耗12位ADC+低噪声+新算法 板级测试 —— SOA安全工作区• 更直观的观察到不同 负载下的功率器件是 否会出现超标• 边界条件可设 ， 可存 、可调出 板级测试 —— 开关损耗分析 磁性器件的磁特性分析计算磁性器件的功耗 • 磁特性（BH曲线 ） • 电感 • I Vs Int V • 磁损耗 • 得到总的磁损耗• 铁芯损耗 • 铜损 • 能测试多个次级绕组 Power测试方案 板级测试——环路测试、电源抑制比、阻抗测试测试 环路响应            DC-DC 变换器的详细原理图。由R1 和R2 所分担的输出电压被反馈到误差放大器，误差放大器将反馈电压与稳定的参考 电压Vref 进行比较，输出与这两个电压之差成比例的输出电压。脉宽调制器 (PWM) 提供的脉冲其占空比由误差放大器的 输出电压决定， 此脉冲可以接通或断开MOSFET 开关。当反馈电压低于Vref 时，反馈系统会延长周期Ton 以提高输出电 压。当反馈电压高于Vref 时，反馈系统会缩短周期Ton 以降低输出电压。这样就能获得一个稳定的DC 输出电压。C1、C2、 C3、R3、R4以及R1 和R2等元器件共同调节误差放大器的增益和相位时延，从而提高反馈环路的稳定度 (反馈补偿) Power测试方案 整体性能评价——EMI测试 全功能 EMC 测试系统: • 辐射骚扰 • 传导骚扰 • EMI 诊断 快速、简便易用: • 故障定向的准峰值加拨 • 测试向导内置通用EMI标准 高精度: • 预定义测试附件的增益与衰减 • 随机噪声比较 自动生成测试报告: • PDF, RTF 等格式报告 如需了解更多，欢迎您了解西安安泰测试设备有限公司，访问安泰测试网。