高压放大器基于扫描式固体腔F-P干涉仪的设计与优化中的应用

实验名称：高压放大器基于扫描式固体腔F-P干涉仪的设计与优化中的应用实验目的：优化设计扫描式固体腔F-P干涉仪实验设备：光源，准直扩束系统，待测电光晶体（包含驱动），4f系统和CCD，信号源，ATA-2161高压放大器，示波器。实验内容：为实现全天时边界层内大气温度绝对探测，即精细获取大气Rayleigh散射谱形，借鉴F-P干涉滤波技术和晶体的电光特性，设计了一种扫描式固体腔F-P干涉仪，测试其滤波性能并进行优化。实验过程：如图是搭建的透射型马赫曾德干涉仪光路，此光路用做全息图的记录，主要包括以下几个部分:光源，准直扩束系统，待测电光晶体（包含驱动）、4f系统和CCD。https://www.aigtek.com/UserFiles/Article/image/6376504713140202201300570.jpg 测量晶体内部均匀性和折射率调制度关系的系统图电光晶体高压驱动，函数发生器，使其产生一个脉冲方波信号，然后经过ATA-2161高压放大器使其放大，最终把放大后的信号加载到晶体上，完成晶体电光性能的测试。   https://www.aigtek.com/UserFiles/Article/image/6376504715194882833756946.jpg电光晶体高压模块标定实验结果：（1）不同电压下CCD上记录的全息图 https://www.aigtek.com/UserFiles/Article/image/6376504718149545684663771.png（2）不同电压场下，对应晶体折射率的改变量对图相位图中晶体相位的改变量进行平均处理，得到不同电压场下，对应的晶体的相位改变量，再由公式计算得出，不同电压场下，对应晶体折射率的改变量。https://www.aigtek.com/UserFiles/Article/image/6376504739143166688292435.png