NI发布2011自动化测试技术展望

美国国家仪器有限公司（National Instruments，简称NI）近日发布了《2011自动化测试技术展望》，就影响测试测量的技术与方法发表了研究结果。该报告所阐述的发展趋势覆盖了消费电子、汽车、半导体、航空航天、医疗设备和通信等众多产业，帮助工程师和企业管理人员利用最新策略和最佳实践案例，优化测试组织架构。

《2011自动化测试技术展望》以学术和工业研究、网上论坛、问卷调查、商业咨询、客户反馈等多种形式广泛进行调查，提出了下一代测试测量行业的发展趋势，以应对该行业所存在的商业与技术挑战。报告从四个方面进行了阐述：

-- 测试资源整合：将设计验证和生产测试的资源整合在一起，需要重视人力资源、流程控制和技术等方面的革新。

-- 系统软件栈：一个高度集成的软件架构可以提升测试性能，并缩短开发时间时间。

-- 异质计算：未来的测试系统将会需要不同类型的运算节点，来满足愈加严格的数据分析与处理要求。

--IP to the Pin：在设计与测试阶段共享FPGA IP可显著缩短对设计进行验证测试的时间，提高产品测试的效率和故障检测覆盖率。

阅读2011自动化测试技术展望，读者可访问http://zone.ni.com/devzone/cda/tut/p/id/12694。