NIDays 2010全球图形化系统设计盛会中国站圆满落幕

美国国家仪器有限公司（National Instruments，简称NI）2010年度“NIDays全球图形化系统设计盛会”中国站于11月4日在上海国际会议中心圆满落幕。围绕“创新，让世界更美好”这一主题，本届NIDays以生动新颖的方式为用户打造了一场关于工程创新的博览盛会，吸引了600余位工程师和十多家行业媒体参加。

创新是各行业发展的动力，本次NIDays从各个方面探讨了如何更好地实现工程创新。通过全天5大专题、近20场技术讲座、6大互动展示区的产品与应用展示，全方位地向工程师展示了基于NI图形化系统设计核心平台，高效实现自动化测试测量、工业嵌入式以及工程教育等方面的创新应用。各专题讲座侧重最新技术与相关应用，而又不失生动风趣，受到听众的普遍欢迎。

NIDays不仅为工程师和科研工作者提供了一个了解最新产品和技术的平台，而且致力于打造成为工程师的节日，让与会来宾在轻松有趣的气氛中有所收获。为此，本届NIDays展示区借用了世博会的概念，设立了展示不同国家与地区实际应用案例的国家馆区、以及前沿技术馆、测试测量馆、LabVIEW主题馆等专题展区，不仅主题突出，而且更加强调互动性。此外，闭幕前压轴上演了首届“LabVIEW天下会”竞赛总决赛，三强选手当场PK，角逐“LabVIEW天下会”盟主。紧张激烈的比赛，将本次活动再次推向了高潮。


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