超大规模集成电路测试：数字、存储器和混合信号系统 蒋安平
2014年08月01日 17:22 发布者：看门狗
【作 者】（美）Michael L.Bushnell，（美）Vishwani D.Agrawal著；蒋安平，冯建华，王新安译
【出版商】 电子工业出版社 , 2005.07
【ISBN号】7-121-01490-4
【页 数】 511 ; 26cm
国外电子与通信教材系列:本书系统介绍了VLSI测试包括数字、存储器和混合信号三类电路测试和可测试性设计。内容包括测试基本概念、测试设备、测试经济学和故障模型、测试方法等。
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网友评论
spy007868 2014年08月02日
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urus 2014年08月02日
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jimcmwang 2014年11月05日
超大规模集成电路测试：数字、存储器和混合信号系统_[蒋安平 译][电子工业出版社][200.rar (16 MB, 下载次数: 63)
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jimcmwang 2014年11月05日
超大规模集成电路测试：数字、存储器和混合信号系统_[蒋安平 译][电子工业出版社][200.rar (16 MB, 下载次数: 61)
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jimcmwang 2014年11月05日
超大规模集成电路测试：数字、存储器和混合信号系统_[蒋安平 译][电子工业出版社][200.rar (15.65 MB, 下载次数: 52)
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春夏秋冬 2015年04月10日
谢谢分享！
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jimcmwang 2015年06月12日
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xsj3501 2015年08月19日
谢谢楼主分享，正需要这个
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radio926 2015年09月08日
谢谢分享
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key330 2018年02月19日
很不错的资料，很强大！
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jimcmwang 2019年08月23日
超大规模集成电路测试：数字、存储器和混合信号系统_[蒋安平 译][电子工业出版社][200.rar (16 MB, 下载次数: 388)
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超大规模集成电路测试：数字、存储器和混合信号系统_[蒋安平 译][电子工业出版社][200.rar (15.65 MB, 下载次数: 363)
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