DPO/DSA70000D系列揭秘：定制的多芯片模块确保高速信号被采样前永远不会接触

2014年02月24日 13:47 发布者：eechina

随着技术进步以摩尔定律的速度*1快速发展，测试测量任务变得越来越困难。高性能应用，特别是要求芯片检定、串行数据一致性测试、光学调制分析、双倍数据速率（DDR）存储器和宽带RF检验的应用，需要以前不能实现的测试测量功能，包括把杰出的性能（带宽和采样率）和灵活性（端接电压和灵敏度）结合起来，而又不会给信号保真度带来负面影响。

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