利用吉时利高功率系统数字源表® 源测量单元（SMU）仪器对功率半导体器件进行测试

电子控制与电子功率转换在各行业(如发电、工业马达驱动与控制、运输及IT) 发展迅速，正推动着功率半导体器件设计与测试的增长。为了证明技术改进，必须对新器件与现有器件能力进行对比。非硅半导体材料的使用需要采用新工艺，而且，为了可持续发展，这些新工艺必须能够交付已知的结果，并具有高产量。随着新器件设计的发展，必须对诸多器件进行更长周期的可靠性测试。因此，测试工程师必须找到具有高精度、可扩展和高费效比的测试设备。

功率模块设计工程师——分布式功率半导体器件用户——正致力于半导体器件测试工作。为了开发DC-DC转换器、逆变器、LED控制器、电池管理芯片以及诸多其他器件，他们在设计中采用分立半导体器件。为了实现更高的电源效率，他们必须对来自供应商的器件进行质量检验，确保其符合应用环境的要求，并预测器件对功率模块效率的影响，最后验证最终产品的性能。

吉时利源测量单元（SMU）仪器，可为器件测试工程师及功率模块设计工程师提供测量所需的工具。不论他们对曲线跟踪仪、半导体参数分析仪或示波器是否熟悉，都能简单而迅速地得到精确的结果。本应用笔记介绍了某些最常见的测试、相关挑战以及吉时利源测量单元（SMU）仪器怎样简化测量流程，特别是与吉时利参数曲线跟踪仪配置进行集成时。

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